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簡要描述:超聲波測(cè)厚儀探頭T-102-2000:美國達(dá)考特MX-5超聲波測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)探頭測(cè)量范圍1.0~152mm,有多種探頭可以選擇,Z大可達(dá)508mm.顯示精度:0.01mm,帶報(bào)警功能、RS232接口以及差值方式
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詳細(xì)介紹
美國達(dá)考特超聲波測(cè)厚儀探頭T-102-2000:美國達(dá)考特MX-5超聲波測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)探頭測(cè)量范圍1.0~152mm,有多種探頭可以選擇,Z大可達(dá)508mm.顯示精度:0.01mm,帶報(bào)警功能、RS232接口以及差值方式。
型號(hào):T-102-2000
頻率:50MHZ
美國達(dá)考特超聲波測(cè)厚儀探頭T-102-2000探頭晶片直徑:6035mm
探頭防磨面直徑:9.53mm 測(cè)量范圍:1.0-152mm
超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進(jìn)行厚度測(cè)量的,當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí),脈沖被反射回探頭通過精確測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來確定被測(cè)材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測(cè)量。
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